Der dritte Tag des IV. RADWAG Metrologie-Symposiums „Technologische Lösungen in der Massenmetrologie“ wurde um vier neue Themenpanels erweitert, die die neuesten technologischen Entwicklungen aus dem Portfolio des Unternehmens präsentieren.

Aufgrund des außergewöhnlich großen Interesses unserer Kundinnen und Kunden sowie der bereits registrierten Teilnehmenden wurde das Programm des Metrologie-Symposiums (6.–8. Oktober) gezielt erweitert. Die zusätzlichen Inhalte ermöglichen einen noch tieferen Einblick in aktuelle Entwicklungen moderner Messsysteme, der Prozessautomatisierung sowie innovativer Lösungen für Labor- und Industrieanwendungen.

Das Programm des dritten Tages ist nun in vier klar strukturierte Themenpanels gegliedert. Dieses Format bietet den Teilnehmenden die Möglichkeit, die neuesten Technologien, praxisnahen Anwendungen und innovativen Lösungen, entwickelt von den Expertinnen und Experten von RADWAG, kompakt und fokussiert zu erleben.

Die Erweiterung des Programms basiert direkt auf dem Feedback der Teilnehmenden, die sich ein breiteres Spektrum an Inhalten und Anwendungsbeispielen gewünscht haben. Damit entwickelt sich das Symposium zu einer noch stärkeren Plattform für den Austausch von Wissen, Erfahrung und Inspiration zwischen Fachleuten aus Laboren, Industrie, wissenschaftlichen Einrichtungen und der  metrologischen Gemeinschaft.

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